材料表征設備

掃描開爾文探針

產品描述：掃描開爾文探針
在線訂購

掃描開爾文探針
掃描開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動電容裝置,用于測試導電材料的功函或半導體材料表面的表面電勢，表面功函。由材料表面最頂部的1-3層原子或分子決定，因而開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術。KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業界最高分辨率的測試系統。

主要特點：
● 功函分辨率< 3meV
● 掃描面積：5mm to 300mm（四種型號，每種型號掃描面積不同）
● 掃描分辨率：317.5nm
● 自動高度調節
應用領域：
● 有機和非有機半導體
● 金屬
● 薄膜
● 太陽能電池和有機光伏材料
● 腐蝕
升級附件：
● 大氣光子發射系統
● 表面光電壓(QTH or LED)
● SPS表面光電壓光譜(400-1000nm)
● 金或不銹鋼探針，直徑0.05mm to 20mm
● 相對濕度控制和氮氣環境箱

上一個：表面光電壓譜系統下一個：超高真空開爾文探針

產品中心

永久破解千层浪平台盒子

聯系我們

聯系(xi)人：張垚(yao)

手機：13916855175

電話：021-56035615

郵箱：info@cqjswh.com

地址：上海市楊浦區松花江路251弄白(bai)玉蘭環保廣場3號902室

永久破解千层浪平台盒子

材料表征設備

掃描開爾文探針

相關產品

產品中心

永久破解千层浪平台盒子

聯系我們