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材料表征設備

  • 單點開爾文探針
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單點開爾文探針單點開爾文探針

單點開爾文探針

單點開爾文探針

單點開(kai)爾(er)文探針是一種(zhong)非接觸、非破壞性振動電(dian)容裝置,用于測(ce)試(shi)導(dao)電(dian)材(cai)(cai)料(liao)的(de)功函或半導(dao)體材(cai)(cai)料(liao)表(biao)(biao)面的(de)表(biao)(biao)面電(dian)勢,表(biao)(biao)面功函。由材(cai)(cai)料(liao)表(biao)(biao)面最頂部的(de)1-3層原子或分(fen)子決定(ding),因而開(kai)爾(er)文探針是一種(zhong)非常(chang)靈敏的(de)表(biao)(biao)面分(fen)析技術。KP Technology公司目前(qian)可(ke)提(ti)供具有1-3 meV業界(jie)最高分(fen)辨率(lv)的(de)測(ce)試(shi)系統。


主要特點:
● 功函分辨率< 3meV
● 手動高度調節
應用領域:
● 有機和非有機半導體
● 金屬
● 薄膜
● 太陽能電池和有機光伏材料
● 腐蝕
升級附件:
● 大氣光子發射系統
● 表面光電壓(QTH or LED)
● SPS表面光電壓光譜(400-1000nm)
● 金或不銹鋼探針,直徑0.05mm to 20mm
● 相對濕度控制和氮氣環境箱

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