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單點開爾(er)文探針(zhen)
單點開爾文探針(zhen)是(shi)一(yi)種(zhong)非(fei)接(jie)觸(chu)、非(fei)破(po)壞性(xing)振動電(dian)容裝置,用(yong)于測試導電(dian)材料(liao)的功函或半(ban)導體材料(liao)表面(mian)(mian)的表面(mian)(mian)電(dian)勢，表面(mian)(mian)功函。由材料(liao)表面(mian)(mian)最(zui)頂部的1-3層原(yuan)子或分子決定，因而開爾文探針(zhen)是(shi)一(yi)種(zhong)非(fei)常靈敏的表面(mian)(mian)分析技術。KP Technology公司(si)目前可提供具有(you)1-3 meV業界最(zui)高分辨率的測試系統。
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