材料表征設備

單點開爾文探針

產品描述：單點開爾文探針
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單點(dian)開(kai)爾文探針

單點(dian)開爾(er)文(wen)(wen)探針(zhen)是一種非(fei)接(jie)觸、非(fei)破(po)壞性振動電(dian)容裝置,用于測試(shi)導電(dian)材料(liao)(liao)的(de)功函或半(ban)導體材料(liao)(liao)表(biao)(biao)面(mian)的(de)表(biao)(biao)面(mian)電(dian)勢，表(biao)(biao)面(mian)功函。由材料(liao)(liao)表(biao)(biao)面(mian)最頂部的(de)1-3層原子(zi)或分(fen)子(zi)決定(ding)，因(yin)而(er)開爾(er)文(wen)(wen)探針(zhen)是一種非(fei)常(chang)靈敏的(de)表(biao)(biao)面(mian)分(fen)析技術。KP Technology公司目(mu)前可提(ti)供具有1-3 meV業界最高分(fen)辨率的(de)測試(shi)系統。

主要特點：
● 功函分辨率< 3meV
● 手動高度調節
應用領域：
● 有機和非有機半導體
● 金屬
● 薄膜
● 太陽能電池和有機光伏材料
● 腐蝕
升級附件：
● 大氣光子發射系統
● 表面光電壓(QTH or LED)
● SPS表面光電壓光譜(400-1000nm)
● 金或不銹鋼探針，直徑0.05mm to 20mm
● 相對濕度控制和氮氣環境箱

上一個：真空腔體水氣解吸附組件下一個：界面力學分析儀